按鍵壽命試驗機適用于按鍵開(kāi)關(guān)、計算機鍵盤(pán)、導電橡膠按鍵或同類(lèi)型按鍵的壽命老化試驗。本機采用微處理器控制，每秒1-4次，經(jīng)功放推動(dòng)電磁鐵產(chǎn)生擊打運動(dòng)，擊打力大小可通過(guò)加到電磁鐵經(jīng)圈上的電壓高低控制。各擊打按鍵產(chǎn)生的有效（導通）或無(wú)效（不導通）信號數據被存儲芯片分別記錄下來(lái)并可由LCD屏幕查詢(xún)顯示。